表面附著異物可視化技術(shù)分析

粒子可視化技術(shù)可用于以高靈敏度檢測(cè)光滑表面上的粒子。此外，通過(guò)可視化顆粒成分的熒光，可以每天管理表面污染物和污漬。

使用散射光的方法

高靈敏度微粒可視化技術(shù)是一種捕捉運(yùn)動(dòng)微粒散射光的技術(shù)。同樣的原理可用于高靈敏度檢測(cè)表面異物和移動(dòng)產(chǎn)品的微弱散射光。激光只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品，但例如，即使在薄膜中也可以通過(guò)可視化檢測(cè)施加張力的位置。

使用散射光檢測(cè)表面污染物

熒光結(jié)合使用

附著在表面的異物或污垢可能會(huì)返回來(lái)自其成分的熒光。為了使熒光顏色清晰，需要對(duì)照射光進(jìn)行設(shè)計(jì)，但如果用特殊濾光片切斷散射光，表面異物會(huì)很鮮艷，很容易看清。使用這種方法，只要光線(xiàn)到達(dá)表面，無(wú)論表面的光滑度如何，都可以進(jìn)行可視化。“D Light"可以免費(fèi)租借（約2天）。請(qǐng)借此機(jī)會(huì)嘗試一下。

使用熒光識(shí)別異物和污垢

利用表面粒子可視化技術(shù)的最佳解決方案

• “D Light"，一種可以更容易地看到表面異物和污漬的熒光色的工具

• “D Scope"，即使是微弱的熒光也能捕捉到，分析微粒子的各種信息并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)的工具

• 一種相對(duì)容易設(shè)置在您想要可視化的表面上的光源是“Parallel Eye F" 。

• “Parallel Eye H"是可視化寬大光滑產(chǎn)品表面的最佳光源。

• “Parallel Eye D"是可視化不平整表面和突出熒光的最佳光源。

• 具有粒子檢測(cè)專(zhuān)用靈敏度和功能的超高感度相機(jī)是專(zhuān)用超高感度相機(jī)“Iscope" 。

• 用于在 PC 上進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像處理和記錄的圖像處理包“ParticleEye"